Заочные электронные конференции
 
     
Главная / Научные конференции / Информационно-телекоммуникационные технологии и электроника /
Метод контроля качества полупроводниковых интегральных устройств и его практическое применение
Номоконова Н.Н.


Прочитать публикацию в формате PDF
64 Кб
Для чтения PDF необходима программа Adobe Reader
GET ADOBE READER

Библиографическая ссылка

Номоконова Н.Н. Метод контроля качества полупроводниковых интегральных устройств и его практическое применение // Информационно-телекоммуникационные технологии и электроника .
URL: http://econf.rae.ru/article/1928 (дата обращения: 03.04.2025).



Сертификат Получить сертификат

 © 2009 Российская Академия Естествознания
Служба технической поддержки - support@rae.ru