Заочные электронные конференции
 
     
Главная / Научные конференции / Методология разработки систем качества и надежности /
Компьютерно-интегрированные системы функционального контроля качества изделий микроэлектроники
Крекотень Ф.В.


Прочитать публикацию в формате PDF
82 Кб
Для чтения PDF необходима программа Adobe Reader
GET ADOBE READER

Библиографическая ссылка

Крекотень Ф.В. Компьютерно-интегрированные системы функционального контроля качества изделий микроэлектроники // Методология разработки систем качества и надежности .
URL: http://econf.rae.ru/article/3466 (дата обращения: 26.04.2024).



Сертификат Получить сертификат

 © 2009 Российская Академия Естествознания
Служба технической поддержки - support@rae.ru